适合倒置显微镜使用，冷热台从正面装夹样品后，显微观察的时候倒置在载物台上。该型号冷热台的样品采用特殊的螺纹卡套结构固定样品。
一、仪器用途：
适合倒置显微镜使用，冷热台从正面装夹样品后，显微观察的时候倒置在载物台上。该型号冷热台的样品采用特殊的螺纹卡套结构固定样品。
二、仪器主要技术参数：
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型号 |
XDL190 |
XDF30 |
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制冷方式 |
液氮 |
半导体 |
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温控范围 |
-190℃~300℃ |
-30℃~120℃ |
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温度精度 |
±0.1 |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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最大加热速率 |
50℃/min |
50℃/min |
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最大冷却速率 |
-30℃/min |
-40℃/min |
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样品台大小 |
Φ14mm |
30*30mm |
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最大振幅 |
≤2μm |
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最小物镜工作距离 |
3.5mm |
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最小聚光镜工作距离 |
20mm |
12mm |
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外观尺寸 |
100×145×43mm |
151×109×19mm |
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腔体净重 |
0.9kg |
0.8kg |
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配套 |
石英片、石英皿、聚四氟乙烯塞 |
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