半导体冷热台采用半导体冷热控制，配合循坏水散热，实现从-30~150℃（选型）的控温。可以实现变温光学测试，或者选配探针实现变温电学测试。
一、仪器介绍：
半导体冷热台采用半导体冷热控制，配合循坏水散热，实现从-30~150℃（选型）的控温。可以实现变温光学测试，或者选配探针实现变温电学测试。
二、仪器主要技术参数：
|
型号 |
CKL120-30 |
CKL150-30 |
|
制冷方式 |
半导体 |
|
|
温控范围 |
-30~120℃ |
-30~150℃ |
|
温度精度 |
±0.1 |
|
|
温度分辨率 |
0.1℃ |
|
|
最大加热速率 |
50℃/min |
|
|
最大冷却速率 |
-40℃/min |
|
|
样品台材质 |
铝合金 |
|
|
样品台大小 |
Φ16mm |
|
|
最大振幅 |
≤2μm |
|
|
通光孔直径 |
Φ2mm |
|
|
正面观察窗大小 |
Φ18mm |
|
|
最小物镜工作距离 |
3.5mm |
|
|
X、Y轴移动距离 |
±6mm |
|
|
位移分辨率 |
0.01mm |
|
|
外观尺寸 |
140×95×20mm* |
|
|
腔体净重 |
1kg |
|
新闻资讯
