XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。
一、仪器介绍：
XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。
适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上定制样品架进行适配。
二、仪器主要技术参数：
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型号 |
CH600-190-XV |
H1200-XV |
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温控模块 |
冷热方式 |
液氮致冷，电阻加热 |
电阻加热 |
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温控范围 |
-190～600℃ * |
RT～1200℃ * |
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温度稳定性 |
±0.1℃（＜600℃），±1℃（＞600℃）* |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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升降温速率 |
0~50℃/min（可定点 / 程序段控温） |
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温控方式 |
PID |
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温度传感器 |
PT100 |
热电偶 |
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光学特性 |
光路 |
反射 * |
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X射线透射膜 |
Kapton膜 |
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结构特性 |
样品台尺寸 |
23×23mm * |
12x12mm * |
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样品台材质 |
银质 * |
陶瓷 * |
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外形尺寸 |
100×100×73mm * |
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腔室 |
真空 |
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外壳冷却 |
循环水 |
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基本配置 |
XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干 |
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选配 |
电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板 |
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备注 |
以上均为默认参数 * 为可定制项 |
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其他可选型号 |
CH400-100-X（-100~400℃） |
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