XPR-500型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化
二、仪器的主要技术指标：
1.显微镜技术参数:
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名 称 |
规 格 |
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总放大倍数： |
40X---630X |
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无应力消色差物镜 |
4X/0.1 |
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10X/0.25 |
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25X/0.40 |
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40X/0.65 |
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63X/0.85 |
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目镜
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WF10X/18mm |
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10X网格目镜 10X分划目镜 10X刻度目镜 |
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试片 |
石膏1λ试片 云母1/4λ试片 石英楔子试片 |
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测微尺 |
0.01mm |
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滤色片 |
蓝色 |
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聚光镜 |
N.A.1.25带可变光栏摇摆式聚光镜 |
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集光镜 |
高亮度固定式照明 |
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载物台 |
直径160mm，360°高精度等分刻度圆型旋转载物台，游标格值6’，中心可调，带锁紧装置 移动尺:移动范围30mm×40mm |
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镜筒 |
45度平拉式三目观察（52mm-75mm) |
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光源 |
卤素灯（6V/20W.AC 85V-230V）亮度可调 |
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电脑摄像系统 |
1X摄影接口，标准C接口 CK-300数字摄像系统，分辨率：2048X1536， 芯片尺寸：1/2"， USB2.0连接, 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CK-300摄像机介绍） |
CK-400型偏光热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
加热台由精密温度控制仪和载物恒温工作台二部分组成，二者由一5芯线缆插口连接，载物恒温工作台置于光学或电子显微镜载物台上。特别适用配合偏光显微镜构成偏光熔点测量系统。
三、熔点仪技术参数:
1)输入电源： 交流170~264V 50/60HZ 2)热台加热工作电源：直流 24V 5A
3)功耗：260W 4)温度范围：室温——420℃
5)热台外体最高温度：热体400℃;室温25℃时≤70℃ 6)工作方式：连续
7)热体最大载物重量：200克 8)精度：测量精度：全范围≤±0.5%
9)升温速度：室温——100℃ ≤80秒 室温——200℃ ≤300秒
10)系统波动度：±1℃
11)升温速度达400℃时间: 10min
12)可设置升温速度范围：0.1——0.5秒/℃
13)即刻恒温响应时间： ≤0.01秒
14)加热板圆盘直径99mm；厚度12mm 15)有效加热范围41mm；通光孔直径3.8mm
四、系统组成:
1、偏光显微镜XPR-500 2、摄像机接口
3、彩色数字摄像机CK-300 4、偏光热台CK-400
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