全新半导体工业检测产品——AWL系列晶圆检查系统,兼具稳定性和安全性,能够安全可靠的传送晶圆,适合于前道到后道工程的晶圆检查。
主要技术参数:
型号 |
AWL046 |
AWL068 |
AWL812 |
晶圆尺寸 |
100mm / 150mm |
150mm / 200mm |
200mm / 300mm |
晶圆最小厚度 |
150um |
150um / 180um |
180um / 250um |
晶舟类型 |
Open Cassette |
Open Cassette / FOUP、FOSB |
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检查模式设置 |
全检 / 奇数检 / 偶数检 / 手动选择 |
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晶舟扫描(有 / 无 / 斜片) |
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● |
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晶舟内凸片侦测报警 |
≥4mm |
≥5mm |
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晶圆预定位(平边、Notch) |
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朝向设置(平边、Notch) |
非接触式定位平边、Notch,支持0°、90°、180°、270°朝向设置 |
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检查功能 |
晶面宏检(旋转)、晶背宏检1(外圈、旋转)、晶背宏检2(中心) |
晶面宏检(旋转)、晶背宏检1(外圈)、晶背宏检2(中心) |
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外观尺寸(W*D*H) |
1450*700*1600mm |
1550*700*1600mm |
2400*1400*2450mm |
电源需求 |
1P / 220V / 10A |
1P / 220V / 16A |
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真空需求(负压 / 正压) |
-70KPA ~ -80KPA |
-70KPA ~ -80KPA / 0.5MPA |
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适用显微镜 |
6RC/8RC金相显微镜 |
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光学系统 |
无限远色差校正光学系统,放大倍率50X-1000X |
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观察方式 |
明场、暗场、偏光、DIC |
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目镜 |
高眼点大视野平场目镜PL10X22mm,可带视度可调,可带测微尺 |
高眼点大视野平场目镜PL10X25mm,可带视度可调,可带测微尺 |
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观察头 |
铰链三目观察筒,5-35度倾角可调,正像,瞳距调节范围:50-76mm,两档式分光比,双目:三目=100:0,0:100 |
铰链三目观察筒,0-35度倾角可调,正像,瞳距调节范围:50-76mm,两档式分光比,双目:三目=100:0,0:100 |
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物镜 |
长工作距平场明暗场半复消色差金相物镜 5X / 10X / 20X / 50X / 100X |
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转换器 |
明暗场6孔电动转换器(带DIC插槽) |
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机架 |
反射式机架,前置低手位粗微同轴调焦机构,粗调行程35mm,微调精度0.001mm,带有防止下滑的松紧调节装置和随机上限位装置,内置100-240V宽电压系统 |
明暗场反射照明器,带视场光阑,可变电动孔径光阑,带明暗场切换装置,带滤色片插槽与偏光装置插槽,带12V10W LED光源控制部件 |
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明暗场反射照明器,带视场光阑,可变电动孔径光阑,带明暗场切换装置,带滤色片及偏光装置插槽,带12V10W LED灯箱 |
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载物台 |
6英寸机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节,晶圆承片台台面φ38mm,可360°旋转,移动行程228mm(X方向)×170mm(Y方向),观察范围:170mmX170mm,带离合器手柄 |
8英寸机械移动平台,低手位X、Y方向同轴调节,晶圆承片台台面φ60mm,可360°旋转,移动行程280mm(X方向)×210mm(Y方向),观察范围:210mm×210mm,带离合器手柄 |
12英寸自动平台,X、Y、Z、φ多方向调节,晶圆承片台台面φ70mm,可360°旋转,移动行程600mm(X方向)×500mm(Y方向),观察范围:310mm×310mm,φ方向可±5度旋转,各轴运动速度可以高低速切换 |
其他 |
滤色片插板、起/检偏镜插板、DIC组件、摄像接口、调整平台、相机、专业晶圆检查软件等 |