DJM-300系列太阳能硅片检测显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场长工作距离明暗场物镜，是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为工业金相显微镜使用。
太阳能硅片检测显微镜DJM-300C
一、DJM-300C太阳能硅片检测显微镜的特点和用途:
DJM-300系列太阳能硅片检测显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场长工作距离明暗场物镜，是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。系统配置了优质无限远光路系统、三目透反射显微镜DJM-300C、500万高清晰数字摄像头及图像测量管理软件，可对太阳能电池板图像进行检查、拍照、测量、编辑和保存输出等多种操作。是太阳能电池硅片检查的理想仪器。
性能特点：
1、采用了较先进的光学显微镜与现代成像分析融为一体的图像测量技术。
2、可对太阳能电池硅片进行检查、拍照、测量、保存、输出等多种操作。
3、系统配置了优质无限远光路系统、大尺寸工作台的三目透反射显微镜
4、可以测量太阳能电池片裂纹长度，崩边长度角度，印刷位移角度偏差
5、可以测量主、副栅线，背电极的宽度、均匀度、栅线间距离及副栅线
到电池边的距离，栅线、断线长度，断线缺损和变色的面积
6、可以检查太阳能电池表面颜色色差、绒面色斑亮斑，裂纹，崩边，掉
角缺口，印刷偏移主副栅线、背电极的断线，缺损，扭曲，变色等现象。
7、可对杂质、残留物成分进行分析。杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂
质、金属离子、硅粉粉尘等。
。
二、太阳能硅片检测显微镜DJM-300C的技术参数:
型号
技术规格
目镜筒
铰链式三目镜,倾斜30˚,内置检偏振片,可进行切换 ；瞳距调节范围 55-75mm,屈光度±5可调。
目镜
WF10X(Φ22mm)
物镜
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL 5X/0.12 工作距离:26.3mm
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L10X/0.25 工作距离:20.2mm
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mm
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L60X/0.70（弹簧） 工作距离：3.18 mm
无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L100X/0.85（弹簧） 工作距离：0.40 mm
落射照明系统
6V 30W卤素灯,亮度可调
落射照明器带 (黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃
视场光栏和孔径光栏大小可调节，可插入式起偏振片，可进行偏光观察和摄影
透射照明系统
阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 。蓝滤色片和磨砂玻璃
集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏) ，6V 30W 卤素灯,亮度可调
调焦机构
粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置
转换器
五孔(内向式滚珠内定位)
载物台
双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)
电脑摄像系统
1X摄影接口，标准C接口，
CK-500数字摄像系统，分辨率：2592X1944， 芯片尺寸：1/2.5"， USB2.0连接, 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CK-500摄像机介绍）
测量软件功能：
1、可进行图像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB颜色等多种处理方法。
2、当前图像放大、缩小、剪切、背景等设置。
3、对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。
三、系统的组成 ：
1、太阳能硅片检测显微镜DJM-300 2、电脑适配镜
3、彩色数字摄像机CK-500 4、计算机(选购)
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